Frekvenca X

Med forenziki dediščine

Informações:

Synopsis

V Frekvenci X se tokrat podajamo v dediščinsko znanost, ki odpira nova okna v preteklost in spreminja naše razumevanje zgodovine, umetnosti in kulturne dediščine. Kaj lahko rentgenski žarki razkrijejo o skrivnostih, skritih pod površino mojstrovin največjih slikarjev? Kako kemija, fizika in podatkovne znanosti pomagajo odkrivati zgodbe faraonov, starodavnih civilizacij in svetovne kulturne dediščine? Ob mednarodni konferenci, ki je minuli teden na Bledu povezala vodilne svetovne strokovnjake na tem področju, bomo med drugim gostili direktorja Egipčanskega muzeja v Kairu ter raziskovalca, ki s pomočjo rentgenskih analiz in drugih naprednih metod razkriva skrite plasti znamenitih slikarskih umetnin. Gostje: Matija Strlič, vodja Centra odličnosti za zeleno dediščinsko znanost Ali Abdelhalim Ali, generalni direktor Egipčanskega muzeja v KairuGeert Van der Snickt, profesor na Univerzi v Antwerpnu, konservator-restavrator in kemik Maite Maguregui, raziskovalka na področju analizne kemije in dediščin